北京
国家知识产权局信息显示，长鑫存储技术（西安）有限公司申请一项名为“一种测试方法和存储器”的专利，公开号CN122781345A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本公开提供了一种测试方法和存储器，涉及半导体技术领域，该测试方法应用于存储器，存储器包括寄存器和存储阵列；测试方法包括：响应于N个第一指令，执行N次将待验证数据读出至存储器的数据端口的步骤；待验证数据存储在寄存器中；N为正整数；响应于第一写命令，在数据端口进行数据采样，并将采样得到的第一数据写入存储阵列；响应于第一读命令，从存储阵列读出第一数据，并基于读出的第一数据，确定测试结果；测试结果用于指示待验证数据是否正确。通过上述测试方法，可以对存储器所包含的寄存器中的数据的正确性进行测试，以确保存储器后续可正常工作。
天眼查资料显示，长鑫存储技术（西安）有限公司，成立于2021年，位于西安市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，长鑫存储技术（西安）有限公司专利信息20条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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