北京
国家知识产权局信息显示，常州银河世纪微电子股份有限公司取得一项名为“一种电子元器件高低温测试设备”的专利，授权公告号CN224758560U，申请日期为2025年8月。
专利摘要显示，本实用新型涉及电子元器件测试技术领域，其公开了一种电子元器件高低温测试设备，该测试设备由高低温试验箱和测试组件构成；所述高低温试验箱上设置有箱门和显示屏，其内部还设置有相互独立的高温测试腔和低温测试腔，高温测试腔和低温测试腔中分别具有加热系统与制冷系统，还分别设置有磁吸座；测试组件设置为可拆卸的结构，其中具有若干用于插接电子元器件引脚的插座，测试组件分别与高温测试腔和低温测试腔中的磁吸座磁性连接，以实现分别在高温测试腔和低温测试腔中进行电子元器件的高、低温测试。本实用新型这种测试设备便于对测试组件进行拆出维护，对线路板也具有相应的保护措施，线路板不易损坏，延长了使用寿命并可以减少测试误差。
天眼查资料显示，常州银河世纪微电子股份有限公司，成立于2006年，位于常州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本12890.3899万人民币。通过天眼查大数据分析，常州银河世纪微电子股份有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目39次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息304条，此外企业还拥有行政许可28个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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