北京
国家知识产权局信息显示，西安佳星华枫精密制造有限公司申请一项名为“一种电子元件视觉缺陷检测方法及系统”的专利，公开号CN122760543A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本发明公开了一种电子元件视觉缺陷检测方法及系统，涉及视觉检测技术领域；其技术要点为：获取目标元件的身份记录、侧壁未覆盖区域和补充视角图案，依据跨工位身份闭合结果形成残差回填许可结果；对许可进入的候选残差执行载具图案重复校验和元件姿态跟随校验，识别候选残差来源；在候选残差未归属于载具图案、跟随目标元件姿态并与侧壁未覆盖区域承接时，生成侧壁缺陷证据并输出视觉缺陷检测结果；在来源冲突、记录缺失或承接关系不成立时输出检测受限结果，并阻断其写入稳定样本和基准更新，本发明能够降低载具固定纹理、相邻承载位残差对侧壁缺陷判断的干扰。
天眼查资料显示，西安佳星华枫精密制造有限公司，成立于2023年，位于西安市，是一家以从事通用设备制造业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，西安佳星华枫精密制造有限公司专利信息3条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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