北京
国家知识产权局信息显示，核马数智科技（无锡）有限公司申请一项名为“模板差分引导多分支卷积变换器的集成电路缺陷检测方法”的专利，公开号CN122760495A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本发明公开了模板差分引导多分支卷积变换器的集成电路缺陷检测方法，涉及工业视觉缺陷检测技术领域，方法包括：构建含几何、纹理、响应模板的标定模板库，经几何模板高频残差分析获取空间对齐参数，完成模板与芯片对齐，多维比对分析后生成结构差分场；输入多分支差分特征编码器，经空间注意力逐级门控生成多分支特征图，转Token序列后经交叉注意力计算生成缺陷标识。本发明解决了传统芯片缺陷视觉检测难以实现图像精准配准，无法全面解析多类缺陷特征，对复杂缺陷定位识别效果差，检测数据精度不足的技术问题，达到了完成图像高精度对齐，全面提取各类缺陷特征并精准锁定异常区域，有效提升集成电路缺陷检测的准确性与可靠性的技术效果。
天眼查资料显示，核马数智科技（无锡）有限公司，成立于2026年，位于无锡市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本320万人民币。通过天眼查大数据分析，核马数智科技（无锡）有限公司专利信息1条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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