北京
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国家知识产权局信息显示，嘉微科技股份有限公司申请一项名为“测试头”的专利，公开号CN122754544A，申请日期为2025年3月。
专利摘要显示，本发明公开了一种测试头，包括绝缘本体和探针，绝缘本体具有上下贯穿的通孔，通孔包括上下依次连通的第一部分、连接部和第二部分，连接部相对于第一部分和第二部分朝左右方向的一侧偏置，且其最大孔径均大于第一部分和第二部分的最大孔径；探针沿上下方向纵长延伸包括收容于连接部的中间段，其上端向上凸出第一部分以抵接对接元件、下端向下凸出第二部分以抵接被测元件，探针穿过通孔并与通孔的孔壁多点接触，中间段于连接部内发生弯曲变形，当探针受压时，中间段于连接部内再发生弯曲变形。简化探针的安装流程，提高测试头的装配效率。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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