北京
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国家知识产权局信息显示，浙江工业大学;宁波智能装备研究院有限公司申请一项名为“一种基于隐变量多步扩散优化的印刷电路板瑕疵检测方法、系统及电子设备”的专利，公开号CN122736953A，申请日期为2026年4月。
专利摘要显示，本发明涉及一种基于隐变量多步扩散优化的印刷电路板瑕疵检测方法、系统及电子设备，获取待检测印刷电路板的图像输入至基于去噪扩散模型改进的预训练的瑕疵检测模型，得到瑕疵预测结果，瑕疵检测模型基于去噪扩散模型的迭代优化机制构建，通过编码器提取图像特征，利用迭代式输出头在噪声扰动条件下多步优化推理，输出目标检测结果；解析瑕疵预测结果，获得待检测印刷电路板中的瑕疵类别与位置信息；系统包括图像获取模块、内置有瑕疵检测模型的瑕疵检测模块和结果解析模块，基于方法实现电子设备。本发明有利于抑制干扰并提升瑕疵检测结果的稳定性，降低人工标注成本，提高训练数据一致性，支持模型在边缘侧的高效运行与在线推理部署。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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