北京
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国家知识产权局信息显示，天虹科技股份有限公司取得一项名为“平行度检测装置及平行度检测设备”的专利，授权公告号CN224731309U，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本实用新型为一种平行度检测装置及平行度检测设备，其中，平行度检测装置通过检测微量位移的方法进行平行度检测，包括一固定件、一转向单元、一侦测部及一位移感测器。转向单元通过一第一转轴连接固定件，其中转向单元的一端连接侦测部，而另一端接触位移感测器。平行度检测装置的固定件用以放置在键合机构的一载台上，其中侦测部受到键合机构的一压合单元施加的压力时，会带动转向单元以第一转轴为轴心相对于固定件摆动，使得位移感测器的一可动部产生位移，以量测压合单元的压合面及载台的承载面之间的距离，并可以依据量测的结果对键合机构进行校正。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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