北京
国家知识产权局信息显示，武汉汇迪森信息技术有限公司申请一项名为“一种闪存芯片的读重试方法和数据储存装置”的专利，公开号CN122676884A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本申请属于读重试优化领域，具体公开一种闪存芯片的读重试方法和数据储存装置。本申请在原有重读表基础上，引入闪存芯片温度表和数据块健康信息表，读命令出错时，通过三张表的联动，确定此时芯片页所在块已擦写次数、芯片页写入温度、当前读取温度、归一化保持时间、读干扰计数，再通过预训练的重读表预测模型，得到预测重读表项，接着访问预测重读表项，执行重读操作。本申请通过环境信息协助快速定位出重读表表项，避免大量不必要重读操作，显著降低平均读取延迟与最坏情况下尾延迟，提升数据存储装置的读重试效率。此外，重读表预测模型在训练时，训练样本集覆盖多种写入温度和多种读取温度，充分考虑写入‑读取温度差较大，避免读重试出错。
天眼查资料显示，武汉汇迪森信息技术有限公司，成立于2012年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉汇迪森信息技术有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目10次，财产线索方面有商标信息29条，专利信息18条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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