北京
国家知识产权局信息显示，深圳市瑞斯特半导体有限公司申请一项名为“一种半导体器件性能参数自动检测方法”的专利，公开号CN122652249A，申请日期为2026年7月。
专利摘要显示，本发明涉及半导体技术领域，具体为一种半导体器件性能参数自动检测方法，包括以下步骤：获取半导体器件的初始检测工作区间；在所述初始检测工作区间内执行初始随机采样，得到初始采样点集合；利用高斯过程回归算法对所述初始采样点集合进行拟合处理，构建代理模型；采用批量贝叶斯优化算法对所述代理模型进行分析处理。本发明利用源测量单元的异步硬件流水线能力进行高速并行采样，降低了上位机与仪器间的通信开销，实现了计算与测量任务的并行处理，压缩了物理测试耗时。这样能够以远少于传统扫描方式的测量点数，快速安全收敛至精确的性能参数，从而在保证精度的前提下，实现了测试效率与安全性的提升。
天眼查资料显示，深圳市瑞斯特半导体有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市瑞斯特半导体有限公司财产线索方面有商标信息3条，此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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