北京
国家知识产权局信息显示，武汉中导光电设备有限公司申请一项名为“一种针对划片后铁环片的自动光学检测方法”的专利，公开号CN122579937A，申请日期为2026年7月。
专利摘要显示，本发明公开了一种针对划片后铁环片的自动光学检测方法，旨在解决自动光学检测设备需频繁人工建立或切换检测配方、检测效率低下的技术问题。本发明包括：在配方建立阶段，通过三点定圆法定义标准晶圆中心并记录膜基准图像；在自动检测阶段，采用径向搜索与膜灰度阈值判断相结合的边缘寻边算法，自动定位实物晶圆的边缘三点，并计算晶圆中心的实际偏移量和缩放系数；在扫描检测阶段，基于预设的黄金晶粒模板图进行匹配，生成实物芯粒的二维索引图和对应的像素图A，并与标准像素图B进行比对，以修正整体分布偏差并剔除多余芯粒。本发明实现了对同类产品使用单一配方进行全自动、高适配性检测，大幅提升了检测效率与准确性。
天眼查资料显示，武汉中导光电设备有限公司，成立于2013年，位于武汉市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉中导光电设备有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目5次，专利信息81条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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