北京
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国家知识产权局信息显示，上海华虹宏力半导体制造有限公司申请一项名为“用于晶圆量产测试的测试时间动态监控管理方法及系统”的专利，公开号CN122487866A，申请日期为2026年4月。
专利摘要显示，本发明涉及一种用于晶圆量产测试的测试时间动态监控管理方法及系统，方法包括：实时接收并存储每一枚晶圆的测试时间数据；每当接收到新的测试时间数据时，触发一次迭代计算，通过排序按比例剔除结合基于实时统计量的动态筛选范围进行二次筛选，得到能反映流程稳定中心趋势的基准测试时间；记录历次迭代计算得到的基准测试时间，形成基准值序列；计算基准值序列的均值，并判断均值是否在一预设波动区间内连续保持稳定达预设次数；若是，则将当前基准值序列的均值作为稳定基准值输出至下游管理系统；若否，则触发报警。本发明能自适应过滤异常，提供可靠的基准测试时间，进而提升产能评估准确性、排产计划精度及测试计费的科学性。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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