北京
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国家知识产权局信息显示，瑞昱半导体股份有限公司申请一项名为“差动取样电路”的专利，公开号CN122371986A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本公开涉及差动取样电路。一种差动取样电路经配置以取样差动电路，差动电路包含第一输出及第二输出，差动取样电路包含放大器以及开关电路。开关电路包含电容、一对取样开关及一对输出开关，该电容的其一端透过该对取样开关的其一者耦接该差动电路的该第一输出，且透过该对输出开关的其一者耦接参考端，该电容的另一端透过该对取样开关的另一者耦接该差动电路的该第二输出，且透过该对输出开关的另一者耦接该放大器的输入端。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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