北京
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国家知识产权局信息显示，李诺工业股份有限公司申请一项名为“检测探针以及其制造方法”的专利，公开号CN122270690A，申请日期为2024年11月。
专利摘要显示，揭示测试探针。测试探针包括具有筒的形状的筒以及端子，其包括部分插入筒的第一端的端子体部，和从端子体部一体延伸以接触待测物凸起端子的接触部。接触部包括：尖端支撑部，包括设置于端子体部上的支撑主体和从支撑主体的第一端以喇叭形突出的尖端基座；以及尖端部，采用硬度比尖端支撑部更高的材料镀在尖端基座的外表面和环绕尖端基座的下端的支撑主体的上表面，且尖端部在尖端基座的上部形成得比下部更厚。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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