北京
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国家知识产权局信息显示，意法半导体国际公司申请一项名为“组合有衍射光栅和干涉滤光器的半导体像素以及成像传感器”的专利，公开号CN122121290A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本公开涉及组合有衍射光栅和干涉滤光器的半导体像素以及成像传感器。一种图像传感器包括在半导体衬底中及上形成的背照式像素。近红外光谱中的辐射通过光电探测器的照射上表面到达像素的背照式光电探测器。结合了该上表面处的衍射光栅和沉积在衍射光栅上的具有不规则层的干涉滤光器的混合结构，使得能够将光子捕获在光电探测器的硅中。辐射在光电探测器中被以足够的角度衍射，该角度足以使其在隔离相邻光电探测器的沟槽和沉积在背照式光电探测器的相反表面上的金属层上的反射后，被干涉滤光器反射。光子被捕获在衬底中；提高了其吸收并因此提高了背照式像素的量子效率。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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