北京
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国家知识产权局信息显示，同方威视技术股份有限公司;清华大学申请一项名为“基于衍射成像的多级扫描成像系统和方法”的专利，公开号CN121740923A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，提供一种基于衍射成像的多级扫描成像系统和方法，涉及辐射成像技术领域。系统包括：第一透射扫描级包括第一射线源和第一探测组件，第一射线源用于发出对被检查物体进行扫描的第一射线，第一探测组件用于探测经被检查物体透射的第一透射射线，以生成第一探测信号；信号处理装置被配置为：处理第一探测信号以生成透射图像，根据透射图像获取被检查物体中的感兴趣对象；第二衍射扫描级包括第二射线源和第二探测组件，第二射线源用于发出对被检查物体进行扫描的第二射线，第二探测组件用于探测经至少感兴趣对象散射的散射射线，以生成第二探测信号，信号处理装置被配置为处理第二探测信号以生成衍射图像，根据衍射图像获取感兴趣对象的物质信息。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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