北京
国家知识产权局信息显示，南通嘉兆微电子有限公司申请一项名为“基于MES的晶圆测试流程管控与防呆系统及其方法”的专利，公开号CN121454996A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于MES的晶圆测试流程管控与防呆系统及其方法，包括：控制模块，连接有MES系统和多台测试机；第一采集模块，连接于控制模块；用于存储待测晶圆的历史测试信息的保存模块，连接于MES系统，历史测试信息包括站点信息和测试信息；防呆模块，包括在历史测试信息中以lot id、wafer id、坐标信息为索引查询待测晶圆是否具有前道站点信息和当前站点信息的查询单元以及基于查询单元的查询结果，生成比对信号的比对单元，查询单元连接于控制模块、保存模块和比对单元，比对单元连接于控制模块；用于采集待测晶圆的测试过程中的测试信息的第二采集模块，连接于测试机和MES系统。本发明解决了现有的晶圆测试易出现重测、漏测现象的问题。
天眼查资料显示，南通嘉兆微电子有限公司，成立于2021年，位于南通市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，南通嘉兆微电子有限公司专利信息6条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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