北京
国家知识产权局信息显示，博测锐创半导体科技（苏州）有限公司申请一项名为“一种半导体测试中微弱信号的抗干扰测量方法”的专利，公开号CN121432119A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明公开了一种半导体测试中微弱信号的抗干扰测量方法，涉及半导体测试技术领域，该方法的具体步骤为：本发明先构建多物理场耦合模型预判干扰风险，据此定制分层屏蔽结构；再搭建双系统采集平台同步校准；接着进行全链路数字化补偿修正信号；最后调用数据库自适应抑制干扰；形成从预判、隔离、校准到补偿、抑制的闭环，保障微弱信号测量精准稳定；本发明通过构建多物理场耦合模型与量化预判算法，定制分层屏蔽结构，搭配双系统采集校准机制，提升抗干扰能力与数据采集质量，同时采用全链路数字化补偿，精准修正信号，动态抑制干扰，形成全流程闭环处理，保障测量精准稳定，适用于多种半导体测试场景，提供更可靠技术支撑。
天眼查资料显示，博测锐创半导体科技（苏州）有限公司，成立于2022年，位于苏州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2333.3334万人民币。通过天眼查大数据分析，博测锐创半导体科技（苏州）有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目20次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息15条，此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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