北京
国家知识产权局信息显示，浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“晶圆失配度的评估方法、装置、电子设备及存储介质”的专利，公开号CN121412515A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本发明提供一种晶圆失配度的评估方法、装置、电子设备及存储介质，评估方法包括：获取测试数据，所述测试数据包括晶圆上多个测试点的电性参数差值，每个测试点对应晶圆上的一个特定区域，且每个所述测试点的电性参数差值基于所述特定区域内的一对待测器件的测量值得到；从所述晶圆上的多个特定区域中选取其中一个区域作为目标区域，并基于空间邻近关系，确定其他特定区域与该目标区域之间的关联权重；基于所述关联权重，对所述其他测试点的电性参数差值进行加权计算，以估算出所述目标区域的局部失配统计值。采用上述技术方案，能够通过评估晶圆上特定区域的局部失配统计值，提升晶圆整体的局部失配的评估精度。
天眼查资料显示，浙江创芯集成电路有限公司，成立于2020年，位于杭州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本182000万人民币。通过天眼查大数据分析，浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目274次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息551条，此外企业还拥有行政许可7个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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