北京
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国家知识产权局信息显示，上海市计量测试技术研究院有限公司申请一项名为“一种神经递质传感阵列及其制备方法和应用”的专利，公开号CN121324318A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本发明涉及一种神经递质传感阵列及其制备方法和应用，所述神经递质传感阵列包括连接单链DNA的单壁碳纳米管；所述单壁碳纳米管为（8,4）‑SWCNT。构建了一种基于(8,4)‑ssDNA‑SWCNT的荧光传感阵列，选择三种非特异性DNA链作为传感元件，通过输出(8,4)‑ssDNA‑SWCNT的近红外荧光信号以识别神经递质。
天眼查资料显示，上海市计量测试技术研究院有限公司，成立于2025年，位于上海市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本338000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海市计量测试技术研究院有限公司参与招投标项目79次，专利信息327条，此外企业还拥有行政许可20个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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