北京
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国家知识产权局信息显示，杭州电子科技大学;杭州华炳电子科技有限公司申请一项名为“射频温度传感与多参数融合的设备状态监测系统及方法”的专利，公开号CN121252887A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本发明公开了射频温度传感与多参数融合的设备状态监测系统及方法。通过传感层采集大型设备的温度、漏电流及振动数据，并传输到数据处理层；进行初步预处理和添加时间戳后，传输到边缘层；边缘层通过物理场深度耦合模型对数据处理层预处理后的多源数据进行同步和特征融合，计算综合故障指数，结合原始数据的瞬时值、综合故障指数值和云端分析的健康状态等级，触发分级预警；所述云端通过大数据平台接收和存储传感器采集的信号以及边缘网关的处理结果，计算设备的动态健康指数，评估设备的健康状态等级，并通过学习设备的老化曲线，定期向边缘层下发更新参数，调整分级预警的触发阈值。解决传统监测技术中感知不精准和预警滞后的问题。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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