北京
分享至
国家知识产权局信息显示，浙江工业大学;嘉兴晶控电子有限公司申请一项名为“一种高精度晶振片动态频率测量方法”的专利，公开号CN121231855A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，一种高精度晶振片动态频率测量方法，包括：1)在上位机上设置目标频率，通过串口与下位机中的单片机通信，发送给下位机。2)获取被测晶片在交变电场中的信号。3)制作频率查找表。4)校准被测晶片信号。5)对校准后的电压信号进行AD转换，输出所述校准后的电压信号的编码至单片机，找出编码对应的频率，通过串口发送至上位机，显示测得的石英晶片频率。本发明能实现高精度低成本的频率测量。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
