北京
国家知识产权局信息显示，北京弘图半导体有限公司申请一项名为“动态相位差校正方法、存储介质、图像传感器及成像设备”的专利，公开号CN121078342A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本发明提供一种动态相位差校正方法、存储介质、图像传感器及成像设备。动态相位差校正方法包括：确定相位差检测像素；根据相位差检测像素的像素值和预设增益计算得到第一校正值；根据相位差检测像素所在第一预设范围内的若干个第一正常像素的像素值及各自的预设校正权重计算得到第二校正值；获取相位差检测像素的噪声信息，并根据噪声信息、第一校正值和第二校正值确定最终校正值，以对相位差检测像素进行校正。本发明通过根据相位差检测像素的当前区域噪声水平设置多层门限以动态选择校正值并根据噪声水平动态混合权重进行校正，能够获得更为客观和准确的校正值，可以显著提高相位差检测像素的校正精度，有效提升图像整体质量。
天眼查资料显示，北京弘图半导体有限公司，成立于2022年，位于北京市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本8837.69718万人民币。通过天眼查大数据分析，北京弘图半导体有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息23条，专利信息15条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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