航鑫光电荧光量子效率检测仪:光致发光量子效率测量新突破
在材料科学与光电器件研发的前沿阵地,光致发光量子效率(PLQY)作为衡量材料光学性能的关键指标,其精确测量的重要性不言而喻。它不仅是洞察材料光学特性的钥匙,更是优化光电器件性能、推动行业发展的核心要素。随着有机金属复合物、荧光探针、染料敏化型 PV 材料、OLED 材料、LED 荧光粉等领域的蓬勃发展,对 PLQY 测量的准确性、高效性和灵活性提出了前所未有的挑战。传统测量设备在复杂多样的测量场景和高精度要求面前逐渐暴露出局限性,航鑫光电适时推出的荧光量子效率检测仪,为这一困境带来了革新性的解决方案。
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光致发光原理:微观世界的能量跃迁
光致发光(Photoluminescence,简称 PL)基于物质与光子的相互作用。当外界光源照射时,物质吸收光子能量,其内部电子从基态跃迁到激发态。根据量子力学原理,处于激发态的电子不稳定,会迅速返回低能态,在此过程中释放出光子,产生发光现象。这一微观过程是理解光致发光现象的基础,也是 PLQY 测量的理论依据。
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多维度参数测量:全面洞察材料性能量子效率相关参数
荧光量子效率检测仪系统能够精确测量材料的发光量子效率,即发射光子数与吸收光子数之比,这是评估材料发光能力的关键指标。同时,系统还可对内量子效率进行精准评估,结合激发波长依赖量子效率、蓝光吸收比、衰减比等多种效率参数的测量,全面反映材料在不同激发条件下的性能变化,为深入研究材料的发光机制提供了丰富的数据支持。
光学性能参数
该系统具备测量光谱功率分布、辐射通量、光子数、光通量、光视效能、峰值波长、中心波长等参数的能力。这些参数从不同角度描述了材料的光学特性,为材料光学性能的综合评估提供了多维度的视角。
色度学参数
在光电器件的应用中,颜色特性至关重要。荧光量子效率检测仪系统能够精确测量 CIE 色度坐标、相关色温(CCT)、MK 1(mired)、显色指数(CRI)、RGB 颜色值等色度学参数,满足了光电器件在颜色特性方面的严格测量需求。
衰减参数监测
材料的稳定性和寿命是实际应用中需要重点关注的因素。系统可实时监测 PLQY t、λ t、Radiance t、Lumen t、K t、CIE t、CCT t、CRI t 等衰减参数,通过分析这些参数随时间变化的曲线,能够深入了解材料的稳定性和寿命信息,为材料的研发和应用提供重要依据。
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技术优势对比:高精度、广泛适用与快速处理高精度测量
在设计上,系统充分考虑了抑制各种干扰因素,采用高灵敏度探测器和精确的光学系统,能够实现对光致发光量子效率的高精度测量。这种高精度测量能力为科研和生产提供了可靠的数据支持,确保了研究结果的准确性和产品质量的稳定性。
广泛适用性
荧光量子效率检测仪适用于薄膜、粉末、液体等多种形态的光致发光材料,涵盖了从有机到无机的各类材料体系。这种广泛的适用性满足了不同用户在不同领域的多样化测量需求,使其成为光致发光量子效率测量领域的通用解决方案。
快速高效的数据处理
系统具备快速的数据采集和处理能力,能在短时间内完成大量样品的测量和分析。这一特性使其尤其适用于大规模生产线上的质量控制和研发过程中的快速筛选,有效提高了工作效率。
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航鑫光电的荧光量子效率检测仪,凭借其先进的技术、全面的参数测量能力、灵活的检测流程优化以及显著的技术优势,为光致发光量子效率测量领域提供了一种可靠且经济的解决方案,是相关高校和科研单位进行材料研究和光电器件研发的理想选择。
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