坐标测量机技术交流会暨GB/T 16857.5国家标准讨论会由中图举办

10月16日，由深圳市中图仪器股份有限公司承办的坐标测量机技术交流会及GB/T 16857.5国家标准第三次讨论会在深圳成功召开。本次会议汇聚了来自全国产品几何技术规范标准化技术委员会、中国计量科学研究院、中国科学院微电子研究所、合肥工业大学、英国国家未来计量实验室、深圳市中图仪器股份有限公司等单位的坐标测量技术领域的专家、学者及企业代表，旨在深入探讨行业最新技术动态，并对关键国家标准的技术内容进行讨论，为推动我国精密测量技术的规范化与高质量发展注入新动能。

深化标准研讨，夯实技术基石

会议议程内容丰富而深入。与会专家、学者及企业代表就坐标测量机的前沿技术进行了广泛交流，围绕大尺度空间激光跟踪测量技术及应用、面向特定任务的坐标测量机溯源技术、微纳米三坐标测量机等前沿话题，带来最新的研究成果与产品介绍。通过各位嘉宾精彩的分享，我们不仅看到了技术发展的“精度”在不断提升，更看到了其应用“广度”与“深度”的无限可能。

随后，会议进入核心环节——对《GB/T 16857.5 产品几何技术规范(GPS) 坐标测量系统(CMS)的验收检测和复检检测 第5部分：使用单探针或多探针、离散点和/或扫描测量模式的接触式探测系统的坐标测量机》国家标准技术内容进行第三次集中讨论。

该标准是坐标测量机（CMM）领域至关重要的一项规范，它明确规定了采用接触式探测系统（包括单探针、多探针以及离散点和扫描模式）的坐标测量机的验收检测与复检检测方法。随着测量技术的飞速发展，多探针与高速扫描技术的应用日益广泛，对现有标准提出了新的要求。与会专家们就标准中的技术细节、检测流程的严谨性、以及对新技术模式的适应性等关键问题展开了热烈而富有建设性的讨论，为标准的进一步完善奠定了坚实的基础。此次讨论对于统一行业检测基准、保障坐标测量机的精度与可靠性、促进高端装备制造业的质量提升具有深远意义。

实地参观交流，见证国产力量

当天下午，与会代表们移步至中图仪器展厅进行参观交流。作为国产自主化三坐标测量机的代表性企业，中图仪器向与会嘉宾全面展示了其在精密测量领域的最新研发成果与高端制造实力。展厅内陈列的高性能三坐标测量机、激光跟踪仪、非球面检测轮廓仪、AI影像仪、闪测仪、白光干涉仪等核心产品，其卓越的测量精度、稳定的性能表现以及先进的软件系统，给参观者留下了深刻印象。

通过实地观摩与深入的技术交流，与会代表们亲身感受到了中国在高端坐标测量装备领域取得的突破性进展。中图仪器在核心技术上的自主研发与创新，彰显了“中国智造”在精密测量领域的强劲竞争力与巨大潜力。

本次技术交流会与国家标准的研讨，不仅为行业内的技术交流与合作搭建了高端平台，更通过实地考察，增强了业界对国产坐标测量技术发展的信心。标准的完善与技术的创新相辅相成，此次会议的顺利召开，标志着我国在坐标测量领域的标准化工作和产业自主化进程上又迈出了坚实的一步，必将有力地推动我国制造业向高质量、高精度方向持续迈进。