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华测仪器推出新款绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统原理与功能
1. 原理离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化，并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移，从而导致绝缘性能下降。绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（测试时间可根据需求定制，通常为1至1000小时），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况。
2. 功能评估绝缘材料的劣化程度：通过长时间的测试，观察电阻值的变化，评估绝缘材料的性能变化。监测离子迁移现象：记录电阻值的变化状况，分析离子迁移对绝缘性能的影响。
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统技术指标
测量电压：100~1500V（可定制）
测试通道：128通道（可定制至高960通道）
测试时长： 可连续运行1500小时
测试温度 ：85℃（可定制）
测试湿度： 85%（可定制）
测量范围 ：1×10^5~1×10^15Ω
极化电压 : 100~1500V（可定制）
扫描周期 : 2分钟完成（128通道）
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