上海
最小 0.1° 角分辨 / 400~1700nm 超宽谱段 / 微米级样品
ARMS 显微角分辨光谱仪支持微米级样品全自动角分辨多模式光谱测量。得益于优秀的色差、像差控制及分波段的光路设计，ARMS 可在显微尺度、400~1700nm 和 0.1° 角分辨率的能力下，同时获得角度 (k) 、频率 (ω)、光谱 (λ) 完整信息，为您在光子晶体、拓扑光子学、超构材料和光-物质强耦合等研究领域提供卓越的解决方案。
典型应用领域：
BICs：连续域束缚态（Bound states in the continuum, BICs）是一种特殊的不与辐射谱耦合的局域态，在光子能带中可观察到角度范围很窄的“劈裂”，这需要对光子能带进行直观而精细的角分辨光谱表征。
PCSEL：光子晶体激光器（Photonic Crystal Surface Emitting Laser, PCSEL）泵浦后光子能带会发射荧光，且大于阈值时 Γ 处点会垂直出射激光，因此需要对荧光模式和激光出射进行精细的角分辨光谱表征。
光-物质强耦合：光与物质强耦合会产生具有拉比分裂的混合态，混合态色散特性是研究这类问题的关键，需要通过显微角分辨光谱对其进行表征。
ARMS 显微角分辨光谱系统 在以上领域的应用得益于如下几个特点：
1，基于 FT-ARS 技术：采用 FT-ARS 技术获得显微角分辨光谱，基于可溯源标准光栅衍射结果进行准确角度计量定标，可实现高达 0.1° 的角度分辨率；
2，微米量级样品信号采集：基于显微成像系统架构，同时配置空间选区光阑，支持检测区域的大小缩放、平移、旋转等五维调节；
3，Vis-Nir 宽谱段探测能力：针对不同波段的像差校正和分波段的双光路消像差设计，可实现 400~1700nm 超宽谱段的显微角分辨光谱检测；
4，多种角分辨光谱测量模式：通过入射条件和接收条件的组合，可支持包括透射、反射、辐射及散射等9种角分辨光谱测量模式；
5，毫秒级瞬态光谱采集能力：采用 FT-ARS 技术配合成像 CCD，对角分辨光谱进行拍摄式高光谱采集，采集时间可以压缩为毫秒级（~ms）；
6，光路系统全自动切换：光机系统采用全电动切换模块，既支持全角度、定角度、透射、反射等测量模式自动切换，又支持 Vis 和 Nir 波段双通道自动切换。此外，ARMS 预留外部光源引入、信号输出接口，可接入外部光源和显微光谱输出等模块，支持样品在低温环境下的角分辨光谱测试。
技术起源：角分辨光谱技术（Angle-resolved Spectroscopy, ARS），诞生于复旦大学，是一种精细化的光谱技术。基于该技术而生的角分辨光谱仪具有在不同角度下探测材料光谱性质的能力，突破传统光谱技术不能分辨角度的局限，是获取光子材料色散关系，实现光学性质“全面表征”的重要手段，在微纳光子学、低维材料、发光材料等领域具有重要应用价值。
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