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（原标题：MIT与TI研究人员已打造出新型防黑RFID芯片）
摘要：一支来自麻省理工（MIT）和德州仪器（TI）的研究团队，已经打造出了一款新型射频识别（RFID）芯片，特点是不会被黑。其声称采取了特殊的措施来防范两种类型的攻击，而它们也是困扰现代RFID芯片（部署了PIN码的信用卡）的头号问题——即“旁路”（side-channel）和“电压毛刺”（power glitch）攻击。旁路攻击出现在攻击者可以在附近看到、记录和分析数据的情况下（源自芯片执行的加密操作）。他们可以观察任务过程中的电力消耗波动、收集巨量的信息、以及后续提取密钥。
MIT和TI研究人员称他们的新型芯片会基于随机数生成器而定期改变密钥（银行服务器上也会运行），唱着双簧的两侧会为每笔卡片交易生成唯一的密钥，从而让旁路攻击“几无可行”。
然而在电压毛刺攻击的辅佐下，其仍有被攻破的可能。这种类型的攻击，需要人为在芯片生成新密钥前截断电力供应。当恢复供电之后，芯片会忘记生成新的密钥，而继续用旧的。
通过重复操作，攻击者可以强制芯片工作于同一密钥下，直到他们积累到了可用于旁路攻击的足够信息。好消息是，MIT和TI团队通过添加3.3V电容的方式，解决了这个问题。
由于电容能够存储额外的电量，所以在电源被突然截断后，芯片仍能够持续完成许多操作，然后将数据发送到571个不同的1.5V存储位（storage cells）上。
在恢复电源供应之后，它会首先给3.3V的电容充电，然后检索此前发到1.5V存储位上的数据，继续此前被人为打断的工作。
MIT和TI研究人员表示，芯片在测试阶段的表现一如预期。当前工作仍处于原型阶段，距离量产还有很多年。他们在今年的旧金山国际固态电路会议（ISSCC）上展示了这一成果。
[编译自：Soft Pedia , 来源：MIT]
本文来源：cnbeta网站
责任编辑：
王晓易_NE0011
